脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析

苏冰洁; 李勇; 王艺融; 赵桢; 陈振茂

doi:10.3969/j.issn.1004-132X.2026.07.001

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脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析

机械基础工程 | 更新时间：2026-11-05

- 脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析
- Analysis of POD for Pulse-modulation Eddy Current Testing of Thickness Reduction in Coating Systems
- 中国机械工程 2026年37卷第7期页码：1541-1547
- 作者机构：
  
  1.复杂服役环境重大装备结构强度与寿命全国重点实验室,西安,710049
  2.陕西省无损检测与结构完整性评价工程技术研究中心,西安,710049
  3.西安交通大学航天航空学院,西安,710049
- 作者简介：
  
  苏冰洁，女，1998年生，博士研究生。研究方向为电磁无损检测。发表论文4篇。E-mail： Subingjie@stu.xjtu.edu.cn
  李勇*（通信作者），男，1978年生，教授、博士研究生导师。研究方向为机械结构无损定量检测及完整性评估。发表论文200余篇。E-mail： yong.li@mail.xjtu.edu.cn。
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(52177007;52311540018);科技部磁约束核聚变能发展研究专项(2019YFE03130003)
- DOI：10.3969/j.issn.1004-132X.2026.07.001
  中图分类号： TG115.28
- 收稿：2025-07-25，
  
  纸质出版：2026-07-25
- 稿件说明：
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苏冰洁，李勇，王艺融，等.脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析［J］.中国机械工程，2026，37（7）：1541-1547.

SU Bingjie，LI Yong，WANG Yirong，et al.Analysis of POD for Pulse-modulation Eddy Current Testing of Thickness Reduction in Coating Systems［J］.China Mechanical Engineering，2026，37（7）：1541-1547.
苏冰洁，李勇，王艺融，等.脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析［J］.中国机械工程，2026，37（7）：1541-1547. DOI： 10.3969/j.issn.1004-132X.2026.07.001.

SU Bingjie，LI Yong，WANG Yirong，et al.Analysis of POD for Pulse-modulation Eddy Current Testing of Thickness Reduction in Coating Systems［J］.China Mechanical Engineering，2026，37（7）：1541-1547. DOI： 10.3969/j.issn.1004-132X.2026.07.001.

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脉冲调制涡流检测涂层系统的减薄缺陷检出概率分析

Analysis of POD for Pulse-modulation Eddy Current Testing of Thickness Reduction in Coating Systems

DOI：10.3969/j.issn.1004-132X.2026.07.001