基于紫外光辐射照度特征的污秽瓷绝缘子绝缘状态评估方法

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

电介质与电气绝缘 | 更新时间：2023-09-09

- 基于紫外光辐射照度特征的污秽瓷绝缘子绝缘状态评估方法
- 暂无标题
- 高电压技术 2023年49卷第4期页码：1622-1631
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家重点研发计划(2018YFF01011900)~~
- DOI：
  中图分类号：
扫描看全文
刘云鹏, 李泳霖, 裴少通, 等. 基于紫外光辐射照度特征的污秽瓷绝缘子绝缘状态评估方法[J]. 高电压技术, 2023,49(4):1622-1631.
刘云鹏, 李泳霖, 裴少通, 等. 基于紫外光辐射照度特征的污秽瓷绝缘子绝缘状态评估方法[J]. 高电压技术, 2023,49(4):1622-1631. DOI：

DOI：

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

基于解耦分析和欧式距离的特高压变压器顶层油温预测方法