您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
GIS绝缘子固化特征与缺陷产生机理研究进展
更新时间:2026-10-20
    • GIS绝缘子固化特征与缺陷产生机理研究进展

    • Vol. 52, Issue 5, Pages: 2052-2067(2026)
    • DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20250476    

      CLC:
    • Received:31 May 2026,

      Published:2026

    移动端阅览

  • ZHANG Yingying, HAO Yanpeng, MI Hongru, et al. GIS绝缘子固化特征与缺陷产生机理研究进展[J]. 2026, 52(5): 2052-2067. DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20250476.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

Views

1

下载量

0

CSCD

Alert me when the article has been cited
提交
Tools
Download
Export Citation
Share
Add to favorites
Add to my album

Related Articles

SVG控制模式对新能源场站宽频振荡作用机理分析及工程实践(二):分析与抑制工程案例
海上风电二极管整流送出系统运行控制方法综述
SVG控制模式对新能源场站宽频振荡作用机理分析及工程实践(一):阻抗建模与机理分析
基于光电传感阵列的储能舱电解液蒸汽扩散原位测量方法及爆炸风险动态评估
可控换相换流器无功支撑控制策略及动模试验

Related Author

No data

Related Institution

No data
0